Megger MIT1025 — испытания при линейном изменении напряжения: стандарты и процедуры [20/32]

Превью страниц Страница 20 / 32

Стандартом для испытаний ступенчатым напряжением является IEEE 95-

2002.

Испытание при линейном изменении напряжения

Испытание при линейном изменении напряжения – это испытание на перена-

пряжение, похожее на испытание ступенчатым напряжением, но с улучшен-

ным управлением и предупреждением о возможном нарушении изоляции.

Риск нанесения непредсказуемого повреждения изоляции при медленном

линейном изменении напряжения гораздо ниже, чем при быстром пошаговом

увеличении испытательного напряжения, которое происходит при испытании

ступенчатым напряжением.

Если было выполнено испытание PI для проверки обмотки на годность для

выполнения испытания перенапряжения, то необходимо полностью разря-

дить обмотку перед выполнением испытания на перенапряжение.

Обычно величина линейного из-

менения напряжения (dV/dt) со-

ставляет 1 кВ/мин, что является

установкой по умолчанию для

приборов MIT525/MIT1025. Это

значение регулируется пользова-

телем – центральный поворот-

ный переключатель должен на-

ходиться в положении установок,

а переключатель выбора режима должен быть установлен в режим испыта-

ния при линейном изменении напряжения. Кнопки со стрелками вверх и вниз

используются для того, чтобы настроить значение dV/dt на нужную скорость

изменения, кнопка OK подтверждает установку. Нажмите и удерживайте

кнопку TEST для запуска испытания.

Во время испытания напряжение будет линейно изменяться до тех пор, пока

не достигнет величины выбранного испытательного напряжения, если не

произойдёт пробой или не будет обнаружено внезапное увеличение тока. Ре-

зультат, который отображается после испытания – это конечное значение со-

противления изоляции, напряжения и тока. Если результат сохраняется, то

будут записаны полные кривые тока (мкА) и напряжения (кВ). Они могут быть

прочитаны в программе PowerDB, PowerDB Lite, или конвертированы в элек-

тронную таблицу для того, чтобы вольтамперные характеристики можно было

сравнить с характеристиками, опубликованными в стандарте IEEE 95-2002.