Amtast AMT27 Руководство по эксплуатации онлайн
AMTAST USA INC
Модель: AMT27
Портативный измеритель
мутности
Руководство по эксплуатации
<Изображение продукта>
Содержание
- Amtast usa inc 1
- Мутности 1
- Портативный измеритель 1
- Руководство по эксплуатации 1
- Содержание 2
- Введение 3
- Распаковка 4
- Принципы работы 5
- Описание 6
- Дисплей 7
- Кнопочная панель 8
- Установка батареи 9
- Включение выключение устройства 10
- Меню настройки 11
- Измерения и калибровка 16
- Калибровка устройства 17
- Выход из режима калибровки 18
- Измерение образцы с высоким уровнем мутности 19
- Измерение образцы с низким уровнем мутности 19
- Вызов данных из памяти 20
- Выход из режима непрерывных измерений 20
- Непрерывные измерения 20
- Сохранение данных в память 20
- Передача данных 23
- Технические характеристики 24
- Вспомогательные аксессуары 25
- Приложение 1 индексирование и калибровка емкостей для проб 26
- Приложение 2 приготовление эталонных растворов формазина 27
- Заявление относительно опасных веществ 28
- Гарантия 29
Похожие устройства
- HM Digital ORP-200 Инструкция по использованию
- Amtast ORP2000 Инструкция по использованию
- Kelilong PH-013 Инструкция по эксплуатации
- Casio SHN-4005D-2C Инструкция по эксплуатации
- Casio SHN-143D-7F Инструкция по эксплуатации
- OHAUS ST300-B Руководство по эксплуатации
- Casio SHN-143D-1F Инструкция по эксплуатации
- Casio SHN-4017L-4A Инструкция по эксплуатации
- Casio SHN-4015L-4A Инструкция по эксплуатации
- OHAUS ST300 Руководство по эксплуатации
- Casio SHN-4005D-4C Инструкция по эксплуатации
- OHAUS ST2100-B Руководство по эксплуатации
- Casio SHN-4013D-1A Инструкция по эксплуатации
- Casio SHN-4005D-1C Инструкция по эксплуатации
- Casio SHN-143SG-7F Инструкция по эксплуатации
- Casio SHN-143D-2F Инструкция по эксплуатации
- OHAUS ST2100-E Руководство по эксплуатации
- Casio SHN-4015L-7A Инструкция по эксплуатации
- Casio SHN-4017L-7A Инструкция по эксплуатации
- Casio SHN-4017L-1A Инструкция по эксплуатации
Скачать
Случайные обсуждения
Ответы 1
Какие шаги необходимо выполнить для измерения образцов с низким уровнем мутности?
2 года назад